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德國EPK MiniTest 4100 涂鍍層測厚儀

更新時間:2024-06-18

儀器型號:

簡要描述:

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;

  免費咨詢:86-0755-23109332

  發郵件給我們:weifeng1718@163.com

德國EPK MiniTest 4100 涂鍍層測厚儀

 

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 4100技術特征:

 

型號1100210031004100
MINITEST 存儲的數據量
應用行數(根據不同探頭或測試條件而記憶的校準基礎數據數)111099
每個應用行下的組(BATCH)數(對組內數據自動統計計算,并可設寬容度極限值) 1 500
可用各自的日期和時間標識特性的組數 1  
數據總量 100001000010000
MINITEST統計計算功能
讀數的六種統計值x,s,n,max,min,kvar 
讀數的八種統計值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
組統計值六種x,s,n,max,min,kvar  
組統計值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk  
存儲顯示每一個應用行下的所有組內數據    
分組打印以上顯示和存儲的數據和統計值  
顯示并打印測量值、打印的日期和時間 
其他功能
設置極限值  
連續測量模式快速測量,通過模擬柱識別zui大zui小值  
連續測量模式中測量穩定后顯示讀數  
連續測量模式中顯示zui小值  

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 4100可選探頭參數:

  所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的
形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
  F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
  N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
  FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

 

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
(凸/凹)

zui小測量
區域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸




F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm


FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無限制

φ17x80mm

  F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內測量。
  N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
  CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。

EPK涂鍍層測厚儀MiniTest 1100/2100/3100/4100探頭

 

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
FN1.6P
0~1600μm,φ30mm
兩用測頭, 特別適合測粉末狀的覆層厚度
FN2
0~2000μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等
量程低端分辨宰很高(O.1μm)
F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(O.1μm)
F3
0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層
 F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 F2/90
0~2000μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內壁測量
 F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層,
如玻璃、塑膠、混凝土等
 F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結構(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層
 N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層
 N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N2
0~2000μm,φ5mm
非磁性測頭,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層
 N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內壁測量
量程低端分辨率很高(O.1μm)
 N2/90
0~2000μm,φ5mm
磁性測頭, 尤其適合在管內壁測量
 N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等
 CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板

 

德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機,各自具有不同的數據處理功能;
  所有型號均可配所有探頭;
  可通過RS232接口連接MiniPrint打印機和計算機;
  可使用一片或二片標準箔校準。

 

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